低成本高速射频电路自动测试系统的新挑战

• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 射频器件 自动测试系统 测试成本 射频功统治放大模型
• 年，卷（期）: 2004,（7）
• 所属期刊栏目: 专题报道
• 页码范围: 21-28
• 页数: 8页
• 分类号: TN606
• 语种: 中文

摘要

随着无线通信市场的快速增长,大多数射频器件制造厂家正在经受着这一领域新出现的众多公司所带来的成本压力.为了寻找解决这一问题的方法,焦点便集中在减少总的加工成本,例如封装、组装以及最终的电气测试等方面.特别是功能测试便成为昂贵的自动测试系统(ATE)满足众多用户对器件质量和生产率要求所不可避免的需求.在这一方面,测试成本的减少便作为一个最大的难题来考虑.介绍了低成本高速射频器件自动测试系统的实现过程,它是一种比较好的减少测试成本的方法.在射频器件的测试中,实现高速、精确测量十分重要但又较困难.为解决上述这些问题,提出了高速和精密测量能力,它是通过16独立的射频部件以高速开关时间和高精度模数转换器采用产业标准与仪器模数扩展(VXI)和GPIB接口而实现的.此外,此系统具有四区测试能力,它能显著地提高器件的生产效率.