针对FPGA内缺陷成团的电路可靠性设计研究

• 作者: 杜文志 谭维炽
• 来源期刊: 中国空间科学技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: 集成电路 可靠性 冗余技术 小型卫星
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与探讨
• 页码范围: 19-26
• 页数: 8页
• 分类号: V4
• 字数: 4889字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-758X.2004.02.004

摘要

文章分析了集成电路内缺陷成团机理及其对集成电路成品率的影响,应用集成电路成品率预计模型,分析了FPGA内缺陷成团对片内冗余容错电路可靠性的影响,据此提出了缺陷成团时提高FPGA片内冗余容错电路可靠性的策略,建立了相应的可靠性分析模型,给出了FPGA片内冗余容错电路布局的一些指导原则.