片状钽电容失效分析

• 作者: 刘家欣 徐征 肖大雏
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 年，卷（期）: 2004,（7）
• 所属期刊栏目: 设备维护与保养
• 页码范围: 79-81
• 页数: 3页
• 字数: 3710字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2004.07.017

摘要

针对片状钽电容在实际使用中失效率过高的问题,从电路设计和制造工艺两个方面分析导致片状钽电容失效的原因,并根据分析的结果给出相应的预防其失效的具体措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐征	武汉大学自动化系	9	26	3.0	4.0
2	肖大雏	武汉大学自动化系	24	95	6.0	9.0
3	刘家欣	武汉大学自动化系	3	34	2.0	3.0