片状钽电容器失效分析

• 作者: 刘家欣 王宾如 肖大雏
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 钽电容器 缓启动 ICT FT 浪涌
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 阻容元件
• 页码范围: 3-6
• 页数: 4页
• 分类号: TM535+.1
• 字数: 4360字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2004.03.002

摘要

针对钽电容在实际使用中失效率过高的问题,从电路设计和制造工艺两个方面分析导致钽电容器失效的原因,并根据分析的结果给出相应的预防钽电容器失效的具体措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖大雏	武汉大学自动化系	24	95	6.0	9.0
2	刘家欣	武汉大学自动化系	3	34	2.0	3.0
3	王宾如	武汉大学自动化系	1	22	1.0	1.0