固体电解质钽电容器介质膜晶化机理及其失效分析

• 作者: 刘欣 方文啸
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 固体电解质钽电容器 介质膜 晶化 失效分析
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 页码范围: 65-67
• 分类号: TM277
• 字数: 3007字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2011.02.019

摘要

从场致晶化和热致晶化的角度对固体电介质钽电容器介质膜晶化现象和机理进行了讨论,并结合CA45-H-35V-470μF固体电解质钽电容器的失效分析对介质膜晶化引起电容器失效进行了进一步的说明.采用筛选、物理分析和降额使用的方法,可有效避免介质膜晶化引起的钽电解电容器失效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方文啸	工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点试验室	5	25	2.0	5.0
2	刘欣	工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点试验室	2	24	2.0	2.0