对科技知识结构测度的挑战

• 作者: 成邦文 王娅莉
• 来源期刊: 国际学术动态
• 学科: 地球科学
• 关键词: 标会 荷兰 测度 科技知识 挑战 科学技术 剑桥 科技指标 交流 安特卫普
• 年，卷（期）: gjxsdt_2004,（5）
• 页码范围: 23-24
• 页数: 2页
• 分类号: N4

摘要

国际科学技术指标会议是不定期举行的交流科技指标领域最新研究成果的国际研讨会。2002年之前已举办过6届，分别在：荷兰莱顿(1988)、德国比勒费尔德(1990)、荷兰莱顿(1991)、比利时安特卫普(1995)、英国剑桥(1998)、荷兰莱顿(2000)。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王娅莉	华中科技大学管理学院	11	334	8.0	11.0
2	成邦文	华中科技大学管理学院	18	355	9.0	18.0