基于IEEE1149.4标准的验证电路设计

• 作者: 刘华林 雷加 颜学龙
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: IEEE1149.4标准 边界扫描 验证电路 电路测试
• 年，卷（期）: 2004,（9）
• 所属期刊栏目: 微电子与基础产品
• 页码范围: 10-13
• 页数: 4页
• 分类号: TN407|TP391.76
• 字数: 2220字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2004.09.004

摘要

介绍了基于IEEE1149.4混合信号测试总线标准的验证电路设计,利用复杂可编程逻辑器件(CPLD)、模拟开关ADG202A和电压比较器LM3¨等器件,实现了该标准所定义的测试结构.它的设计与可观性实验及可控性实验验证了标准的有效性,对于今后推广标准在混合信号芯片中的应用将起到积极的作用.