IEEE1149.4测试系统的研究与设计

• 作者: 李正光 雷加
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: IEEE1149.4 边界扫描 测试系统
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 所属期刊栏目: 开发设计
• 页码范围: 128-130,134
• 页数: 4页
• 分类号: TP302
• 字数: 3150字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-8331.2004.06.039

摘要

分析了符合IEEE1149.4标准IC的工作机制及其对测试系统的功能需求,设计了符合IEEE1149.4标准的测试系统,重点论述了IEEE1149.4测试系统的设计方案.测试系统的仿真和运行表明,该系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、差分测试和参数测试等功能,设计方案正确,结构简单.