基于相关性模型的混合电路系统测试性设计研究

• 作者: 宋克岭 张胜满 王晋阳 陈圣俭
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 混合信号 电路相关性模型 边界扫描 BIT 故障检测
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 页码范围: 157-161
• 分类号: TP277
• 语种: 中文

摘要

1针对测试性设计要求,基于IEEE1149.4标准,利用相关性模型对某控制盒的混合电路系统进行测试性分析与建模,建立被测系统各组成单元与边界扫描测试之间的相关性矩阵,得到优化的边界扫描器件置换与边界扫描结构置入方法.通过制定相应的诊断策略,给出一种通用的混合信号电子系统BIT设计方案.系统验证实验表明,该方法测试迅速,可以有效地提高电子系统测试性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈圣俭	装甲兵工程学院控制工程系	49	228	9.0	12.0