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摘要:
在20~300K低温范围内,通过对电子辐照前后n型6H-SiC正电子湮灭寿命谱的测量,揭示了不同空位型缺陷之间的正电子捕获的竞争.建立了一种用于解释正电子寿命谱测量结果的模型,该模型中费米能级位置的改变可影响缺陷的电离以及正电子在缺陷位置的被捕获.根据模型拟合正电子寿命谱数据后得到:在原生的SiC中,正电子最可能被碳空位和碳的双空位所捕获,经估算其浓度分别为1.1×1017cm-3和3.0×1016cm-3;在辐照后的SiC中,正电子最可能被碳的双空位,硅空位或硅空位的杂合态所捕获,经估算其浓度分别为9.8×1016cm-3和5.4×1016cm-3.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 电子辐照前后的n型6H-SiC低温正电子捕获的研究
来源期刊 四川大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 正电子捕获 正电子寿命 电子辐照 碳化硅(SiC)
年,卷(期) 2004,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 348-353
页数 6页 分类号 O571.23|O472
字数 3903字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0490-6756.2004.02.027
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邓爱红 四川大学应用物理系 26 66 5.0 6.0
2 张伶俐 四川大学应用物理系 101 1231 18.0 31.0
3 Beling C D 香港大学物理系 2 7 1.0 2.0
4 Shan Y Y 香港大学物理系 1 7 1.0 1.0
5 Fung S 香港大学物理系 1 7 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
正电子捕获
正电子寿命
电子辐照
碳化硅(SiC)
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
四川大学学报(自然科学版)
双月刊
0490-6756
51-1595/N
大16开
成都市九眼桥望江路29号
62-127
1955
chi
出版文献量(篇)
5772
总下载数(次)
10
总被引数(次)
25503
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