高温贮存对双极器件抗辐射性能的影响

• 作者: 阎汉民
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 高温贮存 辐射可靠性 双极器件 军用器件
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 页码范围: 17-18
• 页数: 2页
• 分类号: TN722.77

摘要

介绍F124型四运算放大器1 000 h高温贮存前后4组γ总剂量辐射试验的结果,包括静态异地测试试验、动态原位测试试验结果。对4组试验数据进行对比和分析,最后对结果进行讨论。提出"辐射可靠性"的概念。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阎汉民		1	0	0.0	0.0