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摘要:
全数字锁相环(ADPLL)应用广泛,但是在检测领域应用不多.为此,介绍了将一种改进的全数字化锁相环应用于光栅位置检测中的方法.该方法先将光栅传感器的输出信号进行相应调制预处理,再送入全数字锁相环中进行倍频细分,这样既避免了传统锁相环细分方法的缺点,又有细分数高,调节方便,捕捉范围宽的优点.
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锁相环
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一种全数字锁相环的设计与应用
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 一种改进的全数字化锁相环在光栅位置检测中的应用
来源期刊 仪器仪表学报 学科 工学
关键词 全数字锁相环 光栅 位置检测
年,卷(期) 2004,(z3) 所属期刊栏目 资源节约与环境保护
研究方向 页码范围 641-643
页数 3页 分类号 TM2
字数 1346字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0254-3087.2004.z3.197
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 金锋 北京理工大学信息科学技术学院 15 258 10.0 15.0
2 王小兵 北京理工大学信息科学技术学院 1 15 1.0 1.0
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研究主题发展历程
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全数字锁相环
光栅
位置检测
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仪器仪表学报
月刊
0254-3087
11-2179/TH
大16开
北京市东城区北河沿大街79号
2-369
1980
chi
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