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SDH通信芯片的测试方法
SDH通信芯片的测试方法
作者:
吕菱
王建锋
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
通信
芯片
测试
调试
方法
摘要:
通过自身的工作实践,总结出有关SDH通信芯片的测试方法,供大家参考和借鉴。
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文献信息
篇名
SDH通信芯片的测试方法
来源期刊
电子元器件应用
学科
工学
关键词
通信
芯片
测试
调试
方法
年,卷(期)
2005,(2)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
46-48
页数
3页
分类号
TN407
字数
语种
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
吕菱
12
86
5.0
9.0
2
王建锋
3
4
1.0
2.0
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2005(0)
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通信
芯片
测试
调试
方法
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子元器件应用
主办单位:
中国电子元件行业协会
出版周期:
月刊
ISSN:
1563-4795
CN:
开本:
大16开
出版地:
西安市科技路37号海星城市广场B座240
邮发代号:
创刊时间:
1999
语种:
chi
出版文献量(篇)
5842
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7
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