SDH芯片功能验证平台的设计与实现

• 作者: 李宥谋 韩俊刚
• 来源期刊: 光通信研究
• 学科: 工学
• 关键词: 同步数字体系 数字交叉连接 功能验证
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 页码范围: 61-63
• 页数: 3页
• 分类号: TN929.1
• 字数: 3372字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-8788.2005.04.019

摘要

集成电路芯片的规模不断增大,功能越来越复杂,设计验证工作量也越来越大,成为整个设计周期的"瓶颈".文章针对同步数字体系(SDH)宽带交换芯片设计中的功能验证,设计了初步的SDH验证平台,提出了具有一定通用性的SDH芯片的功能验证方案和实现方法,包括分层的描述和验证方法,一系列标准测试数据和自动观测模拟结果的若干加速C程序.该平台已用于40 Gbit/s交换芯片的功能验证,加速了验证过程,取得了满意的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩俊刚	西安邮电学院专用集成电路设计中心	113	703	14.0	20.0
2	李宥谋	西安邮电学院专用集成电路设计中心	43	384	8.0	19.0