r面白宝石单晶的温梯法生长及缺陷研究

• 作者: 周国清 周圣明 庄漪 彭观良 徐军 李抒智 杨卫桥 王银珍 邹军
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 温梯法 r面白宝石 位错 化学腐蚀 腐蚀坑 缺陷
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 页码范围: 653-656
• 页数: 4页
• 分类号: O771
• 字数: 2119字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-985X.2005.04.019

摘要

本文描述使用温梯法(TGT)生长(1102)方向的白宝石单晶,应用X射线双晶摇摆曲线(XRC)测定了晶体内部的完整性,再利用KOH熔体腐蚀出样品的r面(1102)上的位错蚀坑,借助扫描电子显微镜(SEM)进行观察,发现r面白宝石的位错腐蚀坑呈等腰三角形,并且有台阶状结构,并分析了位错的成因.