电子封装中材料的几何尺寸对翘曲的影响

• 作者: 张伟伟 张士元 贺鹏飞 郑百林
• 来源期刊: 力学季刊
• 学科: 工学
• 关键词: 电子封装 有限元 几何尺寸 翘曲
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 页码范围: 506-510
• 页数: 5页
• 分类号: TQ320
• 字数: 2666字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-0053.2005.03.033

摘要

电子器件的封装技术是制约集成电路发展的关键环节之一.封装中各材料(基底、粘结层、芯片及封装材料)的几何尺寸、材料性能的差异引起的翘曲问题严重影响芯片的可靠性和焊接性能.本文采用数值分析方法,并考虑玻璃态转化温度(Tg)对材料性能(弹性模量和热膨胀系数)的影响,研究了尺寸变化对芯片翘曲的影响.分析表明基底与芯片厚度比和封装材料与芯片厚度比的变化对翘曲的影响较大,基底与芯片面积比和粘结层与芯片高度比的变化对整体翘曲的影响较小,本文结果为进一步封装设计提供理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑百林	同济大学航空航天与力学学院	118	744	14.0	21.0
2	贺鹏飞	同济大学航空航天与力学学院	93	897	21.0	25.0
3	张士元	同济大学航空航天与力学学院	7	50	3.0	7.0
4	张伟伟	同济大学航空航天与力学学院	4	75	4.0	4.0