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摘要:
阐述了在真空炉中高温烧结W涂层的基本实验方法和工艺,采用的金相照片,扫描电镜和能谱分析等方法对镀层进行了微观的成分分析.结果显示金属化温度影响W粉的烧结,配方中的氧化钇在连接W和陶瓷基体中起到关键作用.
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文献信息
篇名 氧化铝陶瓷的钨金属化研究
来源期刊 真空电子技术 学科 工学
关键词 金属化 氧化铝
年,卷(期) 2005,(4) 所属期刊栏目 特种陶瓷及金属封接技术专辑
研究方向 页码范围 56-58,60
页数 4页 分类号 TQ174
字数 2233字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-8935.2005.04.017
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 高积强 西安交通大学金属材料强度国家重点实验室 69 664 17.0 20.0
2 金志浩 西安交通大学金属材料强度国家重点实验室 325 5024 34.0 51.0
3 乔冠军 西安交通大学金属材料强度国家重点实验室 112 1262 19.0 29.0
4 王志刚 西安交通大学金属材料强度国家重点实验室 23 157 7.0 12.0
5 王红洁 西安交通大学金属材料强度国家重点实验室 57 568 15.0 20.0
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研究主题发展历程
节点文献
金属化
氧化铝
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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期刊影响力
真空电子技术
双月刊
1002-8935
11-2485/TN
大16开
北京749信箱7分箱
1959
chi
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