基于JTAG的板级可测试性设计

• 来源期刊: 海军航空工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电路板 可测试性 边界扫描 JTAG
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 173-176
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 2729字
• 语种: 中文

摘要

阐述了JTAG技术的采用给电路板的可测试性带来的改善,从设计方法、优化策略以及实现技术等几个方面,讨论了利用边界扫描技术进行电路板的可测试性设计.