结构化测试

• 作者: 李瑛 牟华先
• 来源期刊: 高性能计算技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 结构化测试 测试向量 测试代价 扫描 LBIST MBIST ATPG
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 高性能计算前沿
• 页码范围: 29-33
• 页数: 5页
• 分类号: TP306
• 语种: 中文

摘要

本文主要针对芯片生产中出现的故障,介绍了几种比较常用的结构化测试方法,可以有效地提高测试效率和故障覆盖率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	牟华先		4	0	0.0	0.0
2	李瑛		7	0	0.0	0.0