基于表面细分技术的边界谱方法

• 作者: 文立华 王卫祥
• 来源期刊: 西北工业大学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 表面细分 子波 边界谱方法
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 页码范围: 720-724
• 页数: 5页
• 分类号: O422.2
• 字数: 2762字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-2758.2005.06.008

摘要

把表面细分技术与边界谱方法相结合,提出了一种基于表面细分技术的子波边界谱方法.它能精确描述复杂图形边界,提高处理复杂边界问题的能力和计算精度,把表面细分技术建立的几何模型直接用于边界谱方法的求解.数值算例表明,该方法是有效的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	文立华	西北工业大学航天学院	57	132	6.0	8.0
2	王卫祥	西北工业大学航天学院	5	14	2.0	3.0