Sol-Gel法制备PI/SiO2纳米复合薄膜及结构与性能

• 作者: 冯玉仲 刘久贵 姜立忠 宋芳 武德珍 罗宁
• 来源期刊: 北京化工大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 溶胶-凝胶法 聚酰亚胺 二氧化硅 纳米复合薄膜
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 59-61
• 页数: 3页
• 分类号: TQ323.7
• 字数: 1819字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4628.2005.01.014

摘要

采用溶胶-凝胶法(Sol-Gel)制备了二氧化硅不同质量分数的聚酰亚胺/二氧化硅(PI/SiO2)纳米复合薄膜.并用TEM、力学性能、吸水性能及介电性能测试等方法研究了薄膜的结构与性能.结果表明,SiO2微粒均匀分散在PI基体中,粒径随着SiO2含量的增加而增大;当SiO2质量分数在20%以内时对PI基体有增强作用,且在10%左右拉伸强度达到最大,而吸水率逐渐减小,介电常数则变化不大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	武德珍	北京化工大学北京市新型高分子材料制备与加工重点实验室	84	660	14.0	21.0
2	姜立忠	北京化工大学北京市新型高分子材料制备与加工重点实验室	5	54	4.0	5.0
3	宋芳	北京化工大学北京市新型高分子材料制备与加工重点实验室	3	35	3.0	3.0
4	刘久贵	北京化工大学北京市新型高分子材料制备与加工重点实验室	2	29	2.0	2.0
5	冯玉仲	北京化工大学北京市新型高分子材料制备与加工重点实验室	1	25	1.0	1.0
6	罗宁	北京化工大学北京市新型高分子材料制备与加工重点实验室	1	25	1.0	1.0