基于边界扫描技术的互连测试

• 作者: 张学斌
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描技术 可测试性设计 互连测试 集成电路
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 页码范围: 45-46
• 页数: 2页
• 分类号: TN304.07

摘要

边界扫描技术是当前测试技术研究中的热点，主要介绍基于边界扫描的互连测试技术的原理、算法和应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张学斌	同济大学中德学院	11	29	4.0	5.0