电子元器件使用过程中的可靠性试验

• 作者: 李树生 王东
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 可靠性试验 使用过程
• 年，卷（期）: 2005,（11）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析与研究
• 页码范围: 33-35
• 页数: 3页
• 分类号: TN306
• 字数: 4308字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2005.11.013

摘要

本文介绍了影响电子元器件可靠性的因素和可靠性试验的原理,主要阐述在电子产品生产过程中,为确保产品的可靠性,如何对电子元器件进行可靠性试验.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李树生		4	6	2.0	2.0
2	王东	将军烟草集团有限公司济南卷烟厂技术设备处	1	3	1.0	1.0