梨果面坏损区域的计算机视觉检测方法

• 作者: 张泰岭 梁伟杰 邓继忠
• 来源期刊: 农业机械学报
• 学科: 工学
• 关键词: 梨 果面缺陷 计算机视觉 检测
• 年，卷（期）: 2005,（7）
• 所属期刊栏目: 农业自动化与环境控制
• 页码范围: 101-103
• 页数: 3页
• 分类号: TP394.41
• 字数: 2048字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1298.2005.07.026

摘要

为检测梨的果面的坏损区域,提出了一种利用多台摄像机在多个角度进行拍摄,对多幅采集后的图像进行切割,提取各自特征并进行拼合的算法.试验证明,这是一种较为快速、准确检测梨的果面坏损区域大小的算法,识别梨的坏损面积的相对误差能控制在±0.2范围内,处理时间为250～350 ms;识别梨坏损区域数的正确率为0.89,可以满足系统设计要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓继忠	华南农业大学工程学院	43	308	8.0	15.0
2	张泰岭	华南农业大学工程学院	11	265	7.0	11.0
3	梁伟杰	华南农业大学工程学院	2	43	2.0	2.0