低轨卫星微电子器件SER仿真分析

• 作者: 杨波 王京
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 低轨卫星 微电子器件 单粒子翻转效应 SER
• 年，卷（期）: 2005,（7）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析与研究
• 页码范围: 34-35,33
• 页数: 3页
• 分类号: TN92
• 字数: 2688字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2005.07.012

摘要

本文首先介绍了空间辐照环境和高能单粒子及其对飞行器微电子器件可靠性的影响,然后综合国外文献,给出了器件软错误率(SER)相对空间粒子辐射强度仿真计算模型,并在此基础上对低轨卫星微电子器件S E R进行了仿真分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王京	国防科技大学机电工程与自动化学院	9	36	4.0	5.0
2	杨波	国防科技大学机电工程与自动化学院	33	186	7.0	12.0