数字电路测试中的虚拟测试资源模型研究

• 作者: 周渝 奚全生 陈恒 魏蛟龙
• 来源期刊: 华中科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路 虚拟测试资源 自动测试系统 设备互换性
• 年，卷（期）: 2005,（7）
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: TP227
• 字数: 2598字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2005.07.003

摘要

针对数字电路测试中对测试资源管理方法通用性的需求,以测试泛环境ABBET(A Broad-Based Environment for Test)资源管理软件接口和IEEE1445标准为基础,采用面向信号的测试资源管理方法,构建了虚拟测试资源模型,论述了虚拟测试资源模型的基本组成.在数字电路测试中,通过使用虚拟测试资源模型来隔离测试软件和硬件设备,使ATS中仪器和信号通道的变化与测试软件的开发及使用没有关联性,从而实现测试软件对仪器访问控制的通用性.以实际电路板为被测对象,对基于虚拟测试资源模型开发的TPS(Test Program Set),选取两套不同厂家的数字电路ATE设备作为运行的硬件平台,测试结果表明:TPS可以运行在不同的ATE上,实现了测试资源管理方法的通用性,提高了数字电路TPS的适用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏蛟龙	华中科技大学电子与信息工程系	75	546	13.0	18.0
2	奚全生		7	98	3.0	7.0
3	陈恒	华中科技大学电子与信息工程系	6	41	4.0	6.0
4	周渝	华中科技大学电子与信息工程系	1	3	1.0	1.0