数字电路串扰故障测试的路径敏化方法研究

• 作者: 潘中良 陈翎
• 来源期刊: 自动化与信息工程
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路 故障检测 串扰故障 测试生成
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 字数: 3868字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2605.2007.01.001

摘要

数字电路集成度的提高特别是近年来系统芯片的出现,信号线之间的间距不断缩小,使得信号线间容易发生串扰.文章首先对串扰故障模型,特别是信号线间容性和感性耦合所产生的串扰及其特征进行了讨论,其次针对数字电路中串扰故障的检测,研究了基于路径敏化的测试矢量生成方法,给出了方法的实现步骤.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘中良	华南师范大学物理与电信工程学院	65	230	8.0	12.0
2	陈翎	华南师范大学物理与电信工程学院	25	44	3.0	4.0