电子元器件的可靠性筛选

• 作者: 吴福根 杨少华 黄瑞毅
• 来源期刊: 广东工业大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 环境应力筛选 加速因子 筛选度
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 页码范围: 67-70,76
• 页数: 5页
• 分类号: TN306|TN406
• 字数: 2506字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7162.2006.01.014

摘要

论述了电子元器件在各种应力下的可能失效模式和相应的筛选方法,重点论述了环境应力筛选,以及环境应力筛选的加速因子和筛选度的计算,为电子产品选择合理的可靠性筛选应力水平提供了指导.最后以工程实例说明了可靠性应力筛选的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴福根	广东工业大学实验中心	85	662	14.0	22.0
2	杨少华	广东工业大学实验中心	16	439	9.0	16.0
3	黄瑞毅		7	134	6.0	7.0