(Pb1-xSrx)TiO3铁电薄膜电滞回线的测试分析

• 作者: 孙平 王茂祥
• 来源期刊: 真空与低温
• 学科: 物理学
• 关键词: (Pb1-xSrx)TiO3薄膜 磁控溅射 电滞回线 铁电性
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 142-144
• 页数: 3页
• 分类号: O484.4+2
• 字数: 2142字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7086.2006.03.004

摘要

采用磁控溅射法制备了PST薄膜,讨论了其制备工艺并着重对其电滞回线进行了测试分析.从测试结果来看,其饱和极化强度Ps典型值为19.0μC/cm2,剩余极化强度为6.6μC/cm2,矫顽场强为16 kV/cm,热释电系数为10-4量级.表明所制备的PST薄膜具有较好的铁电性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙平	南京大学工程管理学院	10	52	4.0	7.0
2	王茂祥	南京大学工程管理学院	12	26	3.0	5.0