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薄膜电阻器件的低频噪声测试方法研究
薄膜电阻器件的低频噪声测试方法研究
作者:
吴勇
庄奕琪
杜磊
魏文彦
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
薄膜电阻
低频噪声
噪声测量
阻抗匹配
可靠性
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篇名
薄膜电阻器件的低频噪声测试方法研究
来源期刊
混合微电子技术
学科
工学
关键词
薄膜电阻
低频噪声
噪声测量
阻抗匹配
可靠性
年,卷(期)
2006,(2)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
54-58
页数
5页
分类号
TN911.4
字数
语种
中文
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低频噪声
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中国电子集团公司第四十三研究所
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季刊
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