贝叶斯法在电子器件可靠性指标估计中的应用

• 作者: 宋卫东 张新 杨开宇 谭艳军 高印寒
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 贝叶斯法 可靠性 电子器件 失效率 平均无故障工作时间
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 信号检测、算法与仿真
• 页码范围: 283-287
• 页数: 5页
• 分类号: TN06
• 字数: 2820字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2006.04.001

摘要

提出了一种新的基于贝叶斯法的电子器件可靠性指标估计方法.即首先利用以往批次产品的样本试验数据求出先验分布,然后利用当前批次产品的样本试验数据求出后验信息,最后将先验分布和后验信息代入贝叶斯公式求出需要的估计值.运用这种方法对电子器件的失效率λ,平均无故障工作时间θ和可靠度R(t)进行了点估计和区间估计.最后用算例加以分析.这种方法增加了估计样本的容量,解决了电子器件试验样本少、可靠性指标估计时缺少数据这一问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张新	吉林大学测试科学实验中心	53	395	10.0	18.0
2	高印寒	吉林大学测试科学实验中心	73	570	14.0	19.0
3	杨开宇	吉林大学测试科学实验中心	20	110	6.0	9.0
4	宋卫东	吉林大学测试科学实验中心	1	5	1.0	1.0
5	谭艳军	吉林大学测试科学实验中心	1	5	1.0	1.0