基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
研究了《100》单晶硅在EPW腐蚀液中制作近似圆形硅膜,在EPW腐蚀液中因《100》单晶硅腐蚀速率各向异性,在圆形掩膜下很难实现圆形单晶硅膜.基于EPW腐蚀液中《100》单晶硅存在严重凸角削角,采用带锯齿(9个、20个、36个)结构的齿轮掩膜图形腐蚀制作近似圆形硅膜,通过采用SEM观察,随腐蚀时间增加,圆形掩膜EPW腐蚀后硅膜为近似方形,而带有36个锯齿结构的齿轮掩膜腐蚀后硅膜近似圆形.结果表明,利用掩膜锯齿结构在EPW腐蚀液中存在凸角削角现象,能够实现近似圆形硅膜的制作.
推荐文章
硅含量对铁铬锰硅四元合金耐锌液腐蚀行为的影响
腐蚀
锌液
硅含量
铁铬锰硅四元合金
长链硅氧烷修复液抑制电缆铝芯腐蚀的机理及修复效果研究
交联聚乙烯电缆
绝缘修复
铝芯腐蚀
长链硅氧烷
碘过饱和KOH溶液腐蚀硅尖技术研究
AFM探针
削角
硅尖
各向异性腐蚀
微电子机械系统
TMAH腐蚀液制作硅微结构的研究
MEMS
TMAH硅微结构
各向异性腐蚀
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 EPW腐蚀液中制作近似圆形硅膜研究
来源期刊 传感技术学报 学科 工学
关键词 EPW腐蚀液 圆形硅膜 凸角削角 各向异性腐蚀 MEMS
年,卷(期) 2006,(5) 所属期刊栏目 微纳制造
研究方向 页码范围 1430-1433
页数 4页 分类号 TN4
字数 2772字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-1699.2006.05.031
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 温殿忠 黑龙江大学集成电路重点实验室 51 330 10.0 15.0
2 赵晓锋 黑龙江大学电子工程黑龙江省高校重点实验室 27 123 8.0 10.0
3 王天琦 黑龙江大学电子工程黑龙江省高校重点实验室 3 23 2.0 3.0
4 任华 黑龙江大学集成电路重点实验室 1 2 1.0 1.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (7)
共引文献  (1)
参考文献  (7)
节点文献
引证文献  (2)
同被引文献  (2)
二级引证文献  (0)
1994(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1995(5)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(3)
1996(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
1998(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2004(4)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(2)
2005(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2006(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2008(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2013(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
EPW腐蚀液
圆形硅膜
凸角削角
各向异性腐蚀
MEMS
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
传感技术学报
月刊
1004-1699
32-1322/TN
大16开
南京市四牌楼2号东南大学
1988
chi
出版文献量(篇)
6772
总下载数(次)
23
总被引数(次)
65542
论文1v1指导