一种基于VERA的验证大规模芯片的方法

• 作者: 王恒军 王锦山 赵立
• 来源期刊: 半导体行业
• 学科: 工学
• 关键词: 验证方法 Vera 验证平台
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 页码范围: 28-32
• 页数: 5页
• 分类号: TP31
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王锦山	中兴通讯股份有限公司康讯研究所	15	51	4.0	6.0
2	王恒军	中兴通讯股份有限公司康讯研究所	1	0	0.0	0.0
3	赵立	中兴通讯股份有限公司康讯研究所	1	0	0.0	0.0