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选择ADC:对IF采样应用的考虑
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摘要：
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基于STM32的多重ADC采样技术研究与应用
模拟信号
量化分析
多重ADC
温度采集
采样频率
基于过采样技术提高ADC分辨率探析
过采样
模/数转换器
信噪比
分辨率
利用过采样技术提高ADC测量分辨率
过采样
模/数转换器
数据采集
数字信号处理
适用于流水线ADC的高性能采样/保持电路
采样保持
双采样
增益自举运放
栅压自举开关
内容分析
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期刊影响力
电子设计技术
主办单位：
中国电子报社
出版周期：
月刊
ISSN：
1023-7364
CN：
11-3617/TN
开本：
16开
出版地：
北京市
邮发代号：
创刊时间：
1994
语种：
chi
出版文献量（篇）
5532
总下载数（次）
6
总被引数（次）
1789
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