高效低成本的MCU测试解决方案

• 作者: 吕艺 张可
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 经济
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 测试测量技术
• 页码范围: 23-27
• 页数: 5页
• 分类号: F4
• 字数: 4059字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2007.03.011

摘要

MCU产品是半导体家族中的重要成员,是日常生活中随处可见的IC元件.MCU的市场增长潜力巨大,全球半导体贸易统计协会WSTS和市场调研机构IC Insight公司均预测,MCU市场将快速增长,于2007年将超越150亿美元,而其主要驱动力则来自消费电子、汽车电子的超高速发展.主要讲述了MCU的测试方法,同时对MCU的发展趋势,以及MCU的测试系统进行了简单介绍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕艺	爱德万测试北京分公司技术部	1	3	1.0	1.0
2	张可	爱德万测试北京分公司技术部	2	6	2.0	2.0