使用IP硬核设计芯片的可靠性考虑

• 作者: 湛伟
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: IP硬核 可靠性 噪声干扰 电源 SOC
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 产品测试与解决方案
• 页码范围: 84-85,89
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 1276字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2007.04.018

摘要

IP硬核是SOC芯片的一部分,IP硬核的可靠性设计是否成功直接影响到该IP核的质量与应用.本文重点介绍了IP硬核的噪声干扰、电源、连线对IP核的影响,并提出了相应的解决方案、

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	湛伟		3	12	2.0	3.0