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电子产品可靠性与环境试验期刊
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一种简化的模拟电路测试性评价方法
一种简化的模拟电路测试性评价方法
作者:
陈晓梅
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
测试性评价
符号化分析方法
测试性矩阵
故障诊断和定位
摘要:
模拟电路的测试性是进行故障诊断和定位的重要依据.采用基于符号化的分析方法来进行测试性评价,相对于数值计算的方法更有优势.提出了一种测试性矩阵的构建方法,同时给出并证明了基于该测试矩阵进行测试性评价的方法.该评价方法的特点是计算简单实用,且消除了计算误差.最后,通过电路实例,验证了该方法的有效性及其实现上的简洁性.
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文献信息
篇名
一种简化的模拟电路测试性评价方法
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
测试性评价
符号化分析方法
测试性矩阵
故障诊断和定位
年,卷(期)
2007,(5)
所属期刊栏目
可靠性与环境适应性理论研究
研究方向
页码范围
25-29
页数
5页
分类号
O242
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2007.05.008
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
陈晓梅
华北电力大学电气电子工程学院
21
77
6.0
8.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
版权信息
全文
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研究主题发展历程
节点文献
测试性评价
符号化分析方法
测试性矩阵
故障诊断和定位
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2841
总下载数(次)
0
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