基于RLS的红外焦平面器件非均匀性校正算法

• 作者: 刘上乾 李庆 王炳健
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 红外焦平面器件 基于场景的非均匀校正 递归最小二乘滤波 自适应加权平均滤波器 条纹噪声估计
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 6-9
• 页数: 4页
• 分类号: TN215
• 字数: 2740字
• 语种: 中文

摘要

针对红外焦平面器件(IRFPA)存在着严重的非均匀性和探测元响应特性随时间漂移的实际情况,开发了基于场景的递归最小二乘(RLS)非均匀性校正算法,通过逐帧估计每个探测器的增益和偏置,来补偿图像中的固定图案噪声.通过对参考信号的精确估计,达到最优的校正精度.在算法中,首先提出了一种条纹噪声估计方法来消除图像中的条纹噪声;然后利用周围探测单元的像素值,采用自适应加权平均滤波器的方法精确估计目标边缘处的参考信号;权系数是根据加性误差来选择的.这样,随着递归次数的增加,参考信号能够更接近真实的辐射信号.通过参考信号可以精确地估计探测器的增益和偏置.仿真实验以及对实际红外图像序列的实验结果表明,本文提出的校正算法收敛速度快、校正精度高,具有很好的外场工程适应性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘上乾	西安电子科技大学技术物理学院	128	1852	22.0	36.0
2	王炳健	西安电子科技大学技术物理学院	35	600	15.0	24.0
3	李庆	西安电子科技大学技术物理学院	17	388	8.0	17.0