基于两步法线阵CCD标定技术研究

• 作者: 丁克勤 叶声华 张洪涛 段发阶
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 线阵CCD 两步法 标定
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 页码范围: 311-313
• 页数: 3页
• 分类号: TB92
• 字数: 2214字
• 语种: 中文

摘要

线阵CCD具有高采集率、宽视场的优点,一般应用在高速扫描系统中,CCD与扫描物间的相对位姿不仅影响扫描范围,而且影响其扫描精度,所以需要高精度标定CCD位姿参数.文中首先给出了线阵CCD全位姿的数学模型,通过不断对模型的变换处理,将模型参数分离为两组,分别表征CCD的视范围及物像映射关系,两者既独立又相互联系,可以独立进行标定,简化了标定过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	段发阶	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	171	1929	23.0	36.0
2	叶声华	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	292	6282	40.0	63.0
3	张洪涛	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	20	479	12.0	20.0
4	丁克勤		7	129	5.0	7.0