教学实验中集成芯片损耗增多问题的思考

• 作者: 孙海燕 王淑云
• 来源期刊: 大众科技
• 学科: 教育
• 关键词: 教学实验 集成芯片 损耗增多 损耗原因 减少措施
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 科技人力资源
• 页码范围: 156-157
• 页数: 2页
• 分类号: G424.31
• 字数: 1927字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1151.2007.12.072

摘要

高职高专教育是以培养高等技术应用性专门人才为目标,所以更加强调实践教学.而实践教学之一的实验教学时数大大增加,使得实验设备和元件的损耗增多,这其中有些属于正常损耗,但有些损耗是非正常的或可避免的.文章分析了数字电子技术实验中集成芯片损耗现状及增多的原因,并提出减少损耗的几点措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙海燕		3	2	1.0	1.0
5	王淑云		5	15	2.0	3.0