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摘要:
为满足现代微电路生产工艺线工艺水平评价需要,在对三类典型皮尔逊分布的中心矩与原点矩进行分析研究的基础上,推导了针对该分布的拟合表达式,得到了相应分布类型的参数,并给出分布拟合算法.并且对实际微电路工艺的应用结果表明,拟合结果令人满意.
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文献信息
篇名 工序能力分析中的Pearson分布拟合
来源期刊 电子质量 学科 工学
关键词 皮尔逊分布 拟合 中心矩 原点矩 工序能力
年,卷(期) 2007,(2) 所属期刊栏目 理论与实践
研究方向 页码范围 31-34
页数 4页 分类号 TM13
字数 3000字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.02.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 贾新章 西安电子科技大学微电子学院 63 572 14.0 20.0
2 王少熙 3 6 1.0 2.0
3 张宝军 西安电子科技大学微电子学院 3 7 2.0 2.0
传播情况
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引文网络
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2007(0)
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2010(1)
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  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
皮尔逊分布
拟合
中心矩
原点矩
工序能力
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
广州市五羊新城广兴花园32号一层
46-39
1980
chi
出版文献量(篇)
7058
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32
总被引数(次)
15176
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