分子电子器件的电性能测试方法

• 作者: 王伟
• 来源期刊: 物理
• 学科: 工学
• 关键词: 分子电子学 分子电子器件 电性能测试
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 评述
• 页码范围: 288-294
• 页数: 7页
• 分类号: TN10
• 字数: 8802字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0379-4148.2007.04.005

摘要

介绍了用于两端分子电子器件电性能测试的纳米孔技术、交叉线接触技术、导电原子力显微镜技术、扫描隧道显微镜技术、纳米间距电极技术以及机械可控断裂结技术.结合分子器件的电性能测试要求,对各类测试方法进行了分析评价,并简要指出了分子器件电性能测试研究的发展趋势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王伟	清华大学化学系	169	3463	33.0	52.0