X射线荧光法检测纸张厚度

• 作者: 程锋 赖万昌 郭伟
• 来源期刊: 纸和造纸
• 学科: 化学
• 关键词: 纸张 XRF 检测 纸张厚度
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 仪表自控
• 页码范围: 77-79
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2274字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-6309.2007.06.023

摘要

利用同位素X射线源和高分辨率X射线探测器,分别应用特征荧光吸收法和反散射法对不同纸张样品厚度进行无损检测,结果表明:特征荧光吸收法的准确度和精密度分别优于4.7%和3.3%,反散射法的则分别优于6.3%和3.5%,两种方法的测量精度均可满足纸张厚度检测的需要;通过IED-2000P型XRF分析仪对纸张厚度的测量试验与研究,为下一步开展X荧光方法在线测试系统的研制提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赖万昌	成都理工大学核技术与自动化工程学院	150	873	15.0	20.0
2	程锋	成都理工大学核技术与自动化工程学院	25	129	7.0	9.0
3	郭伟	成都理工大学核技术与自动化工程学院	9	55	5.0	7.0