基于TEmb的嵌入式系统结构化测试研究

• 作者: 帅桂华 常瑞花 张力 梁洪波
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式软件测试 TEmb 测试数据
• 年，卷（期）: 2007,（7）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 54-56
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 3328字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2007.07.015

摘要

目的:研究嵌入式软件测试,保证软件质量.方法:结合实例(某通信设备)分析研究嵌入式系统结构测试.结果:研究一种新的嵌入式系统测试方法--TEmb.结论:该方法为嵌入式软件结构测试研究提供了一种很好的参考的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张力		18	84	5.0	8.0
2	梁洪波		8	31	4.0	5.0
3	帅桂华		7	19	3.0	3.0
4	常瑞花		9	22	3.0	4.0