基于断言的SRAM控制器功能验证

• 作者: 刘晓 杨军
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: 断言 功能验证 Systerm Verilog SRAM控制器
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 微电子与基础产品
• 页码范围: 18-20,55
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 字数: 2859字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2007.02.007

摘要

传统的基于约束的随机矢量生成验证技术在验证过程中存在难于定位bug的缺点,从而增加了验证时间.文中将断言技术和随机矢量验证方法相结合形成基于断言的验证方法,通过在设计实现中加入断言,实时监控设计特性,使设计bug更加容易定位,从而缩短验证过程.以SRAM控制器为例,实验结果表明整个验证时间缩短40%以上,加快了设计验证进度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨军	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	210	2336	24.0	38.0
2	刘晓	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	12	183	6.0	12.0