基于量子进化算法的SoC测试结构优化

• 作者: 李智 王征 许川佩
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 量子进化算法 测试结构 SoC
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1792-1799
• 页数: 8页
• 分类号: TN47
• 字数: 4499字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2007.10.012

摘要

本文针对SoC测试结构的特点,采用多进制的编码方式,建立改进的量子进化算法数学模型.通过选取合适的模型参数,以缩短测试时间为目标,完成对群体的观测,确定IP核在测试访问机制上的分配以及当前群体中的最佳个体,实现基于量子进化算法的片上系统芯片的测试结构优化.针对国际标准片上系统芯片验证表明,量子进化算法可应用于多扫描链IP核构成的包含多条TAM的SoC测试,与同类算法相比,该算法能够获得较短的测试时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许川佩	桂林电子科技大学电子工程学院	124	676	13.0	19.0
2	李智	桂林电子科技大学电子工程学院	123	891	16.0	23.0
3	王征	桂林电子科技大学电子工程学院	2	15	1.0	2.0