PDP能量恢复电路硬开关问题的研究

• 作者: 吴建辉 周吉鹏 孙伟峰 曹允
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 等离子显示器 能量恢复 硬开关 零电压开关
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 页码范围: 518-522,525
• 页数: 6页
• 分类号: TN873.94
• 字数: 5033字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2007.02.045

摘要

等离子显示器在没有能量恢复电路的情况下,功耗很大,不能广泛实用,因此能量恢复电路是驱动电路中至关重要的部分.能量恢复电路中的高压开关MOSFET的硬开关问题,会导致PDP电路中的较大的放电电流,增大电磁干扰(EMI),影响整机性能.硬开关问题是近年来PDP电路研究的重点之一.本文通过对经典能量恢复电路及其寄生效应进行理论分析,指出电路及其元件中的寄生效应是电路中主要MOSFET产生硬开关问题的主要原因,由此分析了研究了改进这一问题的几种方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴建辉	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	102	725	13.0	20.0
2	曹允	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	5	13	2.0	3.0
3	周吉鹏	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	1	2	1.0	1.0
4	孙伟峰	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	5	13	2.0	3.0