红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法研究

• 作者: 吉利久 唐矩 张雅聪 陈中建 鲁文高
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: 时间延迟积分 测试方法 读出电路 红外焦平面
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 页码范围: 342-345,400
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 2680字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2008.05.006

摘要

给出了一种新颖的红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法.该方法通过在电测试MOS场效应晶体管栅极施加不同波形的方波激励信号,观察输出电压波形的对应变化,验证TDI功能的信号延迟和累加操作是否正确.应用该方法实际测试了一款TDI型红外焦平面CMOS读出电路,各种激励模式下测试得到的输出波形均与预计的理想输出波形吻合,证明该测试方法可行,且简单、直观、有普适性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吉利久	北京大学微电子学系	47	298	11.0	15.0
2	鲁文高	北京大学微电子学系	17	80	5.0	8.0
3	陈中建	北京大学微电子学系	22	104	6.0	9.0
4	唐矩	北京大学微电子学系	5	40	2.0	5.0
5	张雅聪	北京大学微电子学系	6	22	2.0	4.0