获取全寿命故障规律进行电子产品故障预测的方法

• 作者: 李刚 梁四洋 蔡金燕
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电子产品 全寿命 故障预测
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 34-37,47
• 页数: 5页
• 分类号: TP206
• 字数: 3521字
• 语种: 中文

摘要

为了解决传统电子产品故障预测方法难以实现和精度差的问题,本文提出利用电子产品全寿命故障规律进行故障预测的方法.它利用加速试验手段,获取电子产品在加速应力下的全寿命故障规律,然后推导出正常应力下的全寿命故障规律并用于故障预测.最后,本文以某型雷达磁控管为对象进行了实例分析,验证了此方法的故障预测结果相对于传统预测方法更加精确.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李刚	军械工程学院雷达工程教研室	111	584	12.0	16.0
2	蔡金燕	军械工程学院雷达工程教研室	144	811	13.0	18.0
3	梁四洋	军械工程学院科研部	33	164	8.0	11.0