基于故障机理和伪失效寿命的电子产品剩余寿命预测

• 作者: 吕卫民 杨立峰 肖阳
• 来源期刊: 海军航空工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 故障机理 剩余寿命预测 退化轨迹
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 兵器理论与技术
• 页码范围: 246-250
• 页数: 5页
• 分类号: TB114.3
• 字数: 2869字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7682/j.issn.1673-1522.2017.02.013

摘要

针对传统电子产品可靠性评估中存在的不足,提出了一种基于故障机理和伪失效寿命的电子产品剩余寿命预测方法.首先,基于电子产品的故障模式、故障机理分析,确定产品敏感性能参数;然后,对敏感参数退化量进行监测,建立电子产品退化轨迹模型,利用最大似然法估计其参数;最后,根据电子产品退化轨迹,设定故障阈值,得到电子产品寿命分布.通过仿真表明,该方法评估精度较高,对电子产品的可靠性评估有一定的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕卫民	海军航空工程学院七系	49	235	8.0	12.0
2	杨立峰		6	42	4.0	6.0
3	肖阳	海军航空工程学院七系	5	16	2.0	4.0